ECD使用中最重要的是始終保持系統(tǒng)的潔凈;有了污染要及時發(fā)及時排除;為使定量準確,要注意防止ECD過載;還要注意安全。
1,保持整個氣路系統(tǒng)的潔凈ECD對雜質(zhì)十分敏感,外來雜質(zhì)進入ECD池,將出現(xiàn)兩種異常:一是放射源表面污使放射源電離能力下降,從而使直流電壓和恒頻率方式ECD基流下或恒電流方式中基頻增高;二是雜質(zhì)直接俘獲ECD中的電子,使基下降或基頻增高。兩者最終均導致靈敏度降低。
具體的保清措施是：
(1)系統(tǒng)氣密性好 通過氣密性實驗,確保從氣源至檢測器出的整個氣路系統(tǒng)氣密性好,無空氣漏入。
(2)氣體純度高 載氣及尾吹氣均應用純度大于99.99%氣,或大于99.999%以上的高純氣。
(3)隔墊流失小 進樣口隔墊應用耐高溫墊。使用前,可放在恒溫箱中于250℃下老化8-12h,甚至再用溶劑萃取,然后使用。
(4)汽化室潔凈 汽化室中玻璃棉及玻璃插管應定期更換。
(5)柱流失小 色譜柱應在比實際使用溫度至少高25℃的溫下充分老化,低柱溫使用。
(5)樣品潔凈 “臟樣品”應作凈化處理。
(7)毛細管柱兩端潔凈 當汽化室或檢測器溫度高時,可能使細管柱外的聚酰亞胺涂層分解成揮發(fā)性組分進入ECD池,為此,可低溫火焰,如丁烷打火機將其燒掉,以保持柱兩端潔凈。
(8)檢測器溫度高于柱溫10℃以上。
(9)保持吹掃氣 暫時停機時,保持少量吹掃氣通過ECD2,檢測器污染及其凈化
可據(jù)下跡象之一判斷ECD可能污染:
(1)直流和恒頻率方式ECD基流下降或恒電流方式基頻增如HP6890氣相色譜儀ECD,設計值是100~600Hz基頻為潔凈;實判斷時,通常認為大于500Hz即可能有污染;
(2)噪聲增大,信噪比下降;
(3) 基線漂移變大;
(4)線性范圍變小;
(5)出負峰,通常是在大峰后有負峰。
對已經(jīng)污染之ECD,操作者可用以下實驗室簡便凈化ECD法之一處理之。
(1)熱清洗法 通常輕度污染常用此法。首先確保氣路系統(tǒng)不漏和無污染。然后,卸下色譜柱,用悶頭螺帽將柱接檢測器的接頭堵死。調(diào)N,尾吹氣至50~60ml/min,升檢測器溫度至150左右(Ni源),柱溫250℃,保持4~8h,最后,冷至通常操作粗度,觀察基順是否下降至正常值。如有效但還不夠,可重復處理之。
(2)熱水蒸汽洗 換上潔凈的汽化室插管,將原柱卸下,換上一根潔凈的短空柱,通N,氣,保持通常流速。升檢測器、汽化室和桂溫分別為300~350℃、 200℃C和150℃。用微量注射器從進樣口注入去離于水50-100uL,連續(xù)注射,共注射10~20次。若原接毛細管柱,即嵌一根未涂固定液的短毛細管柱,每次注入10~15uL,共注射50~
100。這樣,利用熱水蒸氣流清洗ECD池。該法對大多數(shù)污染均可道除。但操作麻煩(若用自動進樣器可減輕一些工作量),占用時間長,請選一次需1~2天,近年已較少使用。
(3)氫烘烤 這是近年較常用的方法。只儒將載氣或尾吹氣換成氫氣,調(diào)流速至30-40mL/min。汽化室和柱溫為室溫,將檢測器升至00-50,持18-24h,使污染物在高溫下與氫作用而除去。氫烘烤畢,將系統(tǒng)調(diào)回至原狀態(tài),穩(wěn)定數(shù)小時即可。
如以上備法均無效,即需與生產(chǎn)廠聯(lián)系處理。
防止ECD過載：
在色譜分析中可能因進樣量大(或樣品濃度大),出現(xiàn)柱過載或檢器過載。一般4mm內(nèi)徑填充柱可容許每個峰最大達0.5~1mg,內(nèi)徑為0.25mm WCOT柱為每峰小于(2-5) ×10~g,在用ECD作環(huán)境樣品中痕量污染物分析時,每峰樣品量為10-8~10-g。這當然不會引起柱過載,但對線性范圍窄的ECD,則很容易達響應飽和。其表現(xiàn)為峰高不再增加(或增加較小),而半峰寬增大。此亦稱ECD過截。
顯然,它必將給定量帶來很大的誤差。這時,必須用溶劑將樣品稀釋至ECD的線性范圍以內(nèi),再測定。
